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01引言爐渣產(chǎn)生于煉鐵和煉鋼的不同階段，包括高爐、轉(zhuǎn)爐、堿性吹氧爐、電弧爐或鐵（鋼）水包等環(huán)節(jié)。在高爐中，爐渣主要由礦石中的雜質(zhì)、助熔劑和焦炭灰形成，其成分是氧化硅、氧化鋁、鈣、鎂的硫化物和氧化物，以及少量錳和鐵的氧化物組成的復(fù)雜混合物。在電弧爐中，爐渣的形成過程可以通過加入氧、碳、石灰石和氧化鎂進(jìn)行控制。氧和碳反應(yīng)生成CO，促使錳和鐵以有價(jià)值的元素狀態(tài)存在，而非氧化物形式。堿性爐渣有助于中和酸性物質(zhì)，從而延長爐壁耐火磚的使用壽命。因此，適時(shí)監(jiān)測爐渣成分是控制冶煉過程的關(guān)鍵環(huán)...

01前言鉛（Pb）可添加在玩具油漆涂層中，使油漆涂層堅(jiān)硬而富有韌性，也可以直接添加到塑膠玩具基材中，增加其強(qiáng)度，而且原料生產(chǎn)中所使用的色粉、色母或穩(wěn)定劑等都有可能含Pb。兒童Pb中毒會造成多系統(tǒng)的損害，特別對兒童智力發(fā)育的影響尤為顯著。因此Pb含量一直是玩具安全檢測中的重點(diǎn)項(xiàng)目，也是玩具生產(chǎn)中的主要質(zhì)控項(xiàng)目。本研究使用X射線熒光法檢測玩具產(chǎn)品中的Pb含量，考察了管電壓、測量時(shí)間、濾光片等條件，選擇合適的檢測參數(shù)及方法，實(shí)現(xiàn)了Pb含量的快速檢測。相比傳統(tǒng)檢測方法，具有無需前處理...

01引言開采的礦石，濃縮物及其精練產(chǎn)品的元素分析是任何礦石開采和金屬精練工藝的重要組成部份。世界上已安裝幾千臺X射線熒光光譜儀就證明它是非常合算和可靠的元素分析技術(shù)。礦石和金屬都能在固體狀態(tài)分析，大多數(shù)測試可以由未經(jīng)培訓(xùn)的人員進(jìn)行并能得好的精密度，這樣，XRF就免除了傳統(tǒng)濕法化學(xué)分析的困難，費(fèi)用和延遲。本文敘述了使用ThermoARLQUANT'XEDXRF分析幾種硫化物，礦石中Zn,Pb,Ba,Fe和Si的典型結(jié)果。02儀器ARLQUANT'X使用高靈敏度的檢測器可以測定從...

要保證膜類樣品元素分析的準(zhǔn)確性，需要從多個(gè)方面進(jìn)行綜合考慮和操作。以下是一些關(guān)鍵措施：1、選擇合適的檢測方法：根據(jù)膜類樣品的特性和檢測目的選擇合適的檢測方法，如X射線熒光光譜法（XRF）、原子吸收光譜法、電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）等。每種方法都有其優(yōu)缺點(diǎn)和適用范圍，因此選擇時(shí)需充分考慮實(shí)際情況。2、設(shè)備選用和維護(hù)：選擇質(zhì)量可靠、性能穩(wěn)定的檢測設(shè)備，如高靈敏度的X射線熒光光譜儀系列等。對設(shè)備進(jìn)行定期維護(hù)和校準(zhǔn)，確保設(shè)備處于正常工作狀態(tài)，以減少因設(shè)備問題導(dǎo)致的測量誤差...

在現(xiàn)代科學(xué)研究與工業(yè)應(yīng)用中，了解物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和特性是至關(guān)重要的。X射線衍射儀，作為一種高精度的分析工具，在這方面扮演著重要的角色。衍射儀基于X射線與晶體物質(zhì)相互作用時(shí)的衍射現(xiàn)象，通過分析衍射圖譜來揭示晶體的原子排列和結(jié)構(gòu)信息。當(dāng)X射線以特定的角度射向晶體時(shí)，會在晶體內(nèi)部產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，形成特定的衍射圖譜。不同的晶體結(jié)構(gòu)會導(dǎo)致不同的衍射圖案，從而可以通過分析這些圖案來確定晶體的結(jié)構(gòu)。1、X射線發(fā)生器：通常包括一個(gè)電子槍和一個(gè)靶材，電子槍發(fā)射高能電子束撞擊靶材產(chǎn)生X射線。2、樣品...

X射線衍射儀的主要部分包括X射線發(fā)生器、測角儀、X射線探測器以及X射線系統(tǒng)控制裝置。以下是對這些主要部分的詳細(xì)介紹：1、X射線發(fā)生器：這是產(chǎn)生X射線的裝置，通常由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及各種保護(hù)電路等部分組成?，F(xiàn)代衍射用的X射線管多為熱電子管，有密封式和轉(zhuǎn)靶式兩種。2、測角儀：用于測量衍射角度（2θ）的裝置，是X射線衍射儀中的核心部分，用來精確測量衍射角。它確保X射線以特定的角度照射到樣品上，并記錄下衍射后X射線的角度變化。3、X射線探測器：用于測量X射線...

波長色散熒光光譜儀的工作原理是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線），并通過分光晶體和探測器系統(tǒng)對產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行測量，從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析。以下是具體介紹：1、激發(fā)過程：當(dāng)樣品被X射線管產(chǎn)生的高能X射線照射時(shí)，樣品中元素的原子內(nèi)殼層電子會被激發(fā)，形成空穴。這些空穴隨后由外層電子躍遷填補(bǔ)，過程中釋放出具有特定能量的特征X射線。2、熒光產(chǎn)生：受激發(fā)的原子發(fā)射出特征X射線，即次級X射線，這些射線帶有元素特定的能量或波長信息。這一過程稱為熒光...

在材料科學(xué)的微觀世界中，納米到微米尺度的膜層扮演著至關(guān)重要的角色。它們擁有物理、化學(xué)和生物學(xué)特性，為各類現(xiàn)代技術(shù)的應(yīng)用提供了新的可能性。對這一尺度范圍內(nèi)膜層的特征進(jìn)行深入分析，有助于我們更好地理解并利用這些材料的特性。膜層厚度是最基本的特征之一，它直接影響到材料的功能與性能。在納米到微米級別，即使是幾個(gè)納米的厚度變化也會顯著影響到膜層的光學(xué)、機(jī)械和傳輸特性。精確控制和測量這一范圍內(nèi)的膜層厚度，通常需要借助高精度的儀器如原子力顯微鏡（AFM）或者橢圓偏振儀。孔隙率是另一個(gè)關(guān)鍵指...

導(dǎo)言X射線衍射(XRD)被廣泛認(rèn)為是礦物學(xué)分析的黃金標(biāo)準(zhǔn)方法。無論是采礦還是研究，X射線衍射儀在各種領(lǐng)域中都有著廣泛的應(yīng)用，從礦山運(yùn)營的常規(guī)質(zhì)量保證、質(zhì)量控制到解析粉末中的粘土結(jié)構(gòu)等。為了更好地支持研究和加工，X射線衍射儀的多功能性需求也在不斷增加。現(xiàn)代工藝地質(zhì)學(xué)的應(yīng)用不僅要求儀器具有極少的停機(jī)時(shí)間，還需要能夠快速、精確地收集數(shù)據(jù)的能力。此外，實(shí)驗(yàn)室通常希望簡化數(shù)據(jù)收集與分析的過程，以提高效率。儀器介紹本次實(shí)驗(yàn)所使用的是賽默飛的ARLX’TRACompanion，此臺設(shè)備是高...

在材料科學(xué)、藥物開發(fā)、化學(xué)研究以及眾多工業(yè)領(lǐng)域，精確的結(jié)構(gòu)分析是實(shí)現(xiàn)新材料發(fā)現(xiàn)和現(xiàn)有材料性能優(yōu)化的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。粉末衍射儀是一種強(qiáng)大的分析工具，它通過測量材料對X射線的衍射圖譜來確定其晶體結(jié)構(gòu)。衍射儀使用X射線照射粉末樣品，當(dāng)X射線與樣品中的原子晶格相互作用時(shí)，會發(fā)生衍射現(xiàn)象。衍射圖譜（一系列衍射峰的位置和強(qiáng)度）是樣品晶體結(jié)構(gòu)的指紋，通過分析這些衍射峰，可以確定材料的相組成、晶格常數(shù)、晶體取向以及其他微觀結(jié)構(gòu)信息。1、相鑒定：通過對比實(shí)驗(yàn)得到的衍射圖譜與已知結(jié)構(gòu)的衍射數(shù)據(jù)，可以快...